耐壓測(cè)試（ Withstanding Voltage Test ）又稱作高壓測(cè)試（ Hipot Test ）或介電強(qiáng)度測(cè)試（ Dielectric Test ），可能是大家熟悉和在產(chǎn)品流程**測(cè)試中用的*多的。

        耐壓測(cè)試是一種無(wú)破壞性的測(cè)試，它用來(lái)檢測(cè)經(jīng)常發(fā)生的瞬態(tài)高壓下產(chǎn)品的絕緣能力是否合格。它在一定時(shí)間內(nèi)施加高壓到被測(cè)試設(shè)備以確保設(shè)備的絕緣性能足夠強(qiáng)。

        測(cè)試電壓，大部分的**標(biāo)準(zhǔn)允許在耐壓測(cè)試中使用交流或直流電壓。若使用交流測(cè)試電壓，當(dāng)達(dá)到電壓峰值時(shí)，無(wú)論是正極性還是負(fù)極性峰值時(shí)，待測(cè)絕緣體都承受*大壓力。因此，如果決定選擇使用直流電壓測(cè)試，就必須確保直流測(cè)試電壓是交流測(cè)試電壓的 倍，這樣直流電壓才可以與交流電壓峰值等值。例如： 1500V 交流電壓，對(duì)于直流電壓若要產(chǎn)生相同數(shù)量的電應(yīng)力必須為 1500 × 1.414 即 2121V 直流電壓。

        使用直流測(cè)試電壓的其中一個(gè)好處在于在直流模式下，流過(guò)耐壓測(cè)試儀報(bào)警電流測(cè)量裝置的是真正的流過(guò)樣品的電流。采用直流測(cè)試的另一個(gè)好處在于可以逐漸的施加電壓。在電壓增加時(shí)通過(guò)監(jiān)視流過(guò)樣品的電流，操作者可以在擊穿發(fā)生前察覺(jué)到。需要注意的是當(dāng)使用直流耐壓測(cè)試儀時(shí)，由于電路中的電容充電，必須在測(cè)試完成后對(duì)樣品進(jìn)行放電。事實(shí)上，無(wú)論是測(cè)試電壓是多少、其產(chǎn)品特點(diǎn)如何，在操作產(chǎn)品前對(duì)其放電都是有好處的。

        直流耐壓測(cè)試的不足在于它只能在一個(gè)方向施加測(cè)試電壓，不能像交流測(cè)試那樣可以在兩個(gè)極性上施加電應(yīng)力，而多數(shù)電子產(chǎn)品正是在交流電源下進(jìn)行工作的。另外，由于直流測(cè)試電壓較難產(chǎn)生，因此直流測(cè)試比交流測(cè)試成本要高。

        交流耐壓測(cè)試的優(yōu)點(diǎn)在于 , 它可以檢測(cè)所有的電壓極性，這更接近與實(shí)際的實(shí)用情況。另外，由于交流電壓不會(huì)對(duì)電容充電，因此大多數(shù)情況下，無(wú)需逐漸升壓，直接輸出相應(yīng)的電壓就可以得到穩(wěn)定的電流值。并且，交流測(cè)試完成后，無(wú)需進(jìn)行樣品放電。

        交流耐壓測(cè)試的不足在于，如果測(cè)試中的線路中有大的 Y 電容，在某些情況下，交流測(cè)試將會(huì)誤判。大部分**標(biāo)準(zhǔn)允許使用者在測(cè)試前不連接 Y 電容，或者改為使用直流測(cè)試。直流耐壓測(cè)試在加高電壓于 Y 電容時(shí)，不會(huì)誤判，因?yàn)榇藭r(shí)電容不會(huì)允許任何電流通過(guò)。

        交流耐壓試驗(yàn)是鑒定電力設(shè)備絕緣強(qiáng)度*有效和*直接的方法。

        電力設(shè)備在運(yùn)行中，絕緣長(zhǎng)期受到電場(chǎng)、溫度、和機(jī)械振動(dòng)的作用會(huì)逐漸發(fā)生劣化其中包括整體劣化，形成缺陷。例如由于局部地方電場(chǎng)比較集中或者局部絕緣比較脆弱就存在局部的缺陷。各種預(yù)防性試驗(yàn)方法，各有其長(zhǎng)，均能分別發(fā)現(xiàn)一些缺陷，反映出絕緣的狀況，但其他試驗(yàn)方法的試驗(yàn)電壓往往都低于電力設(shè)備的工作電壓，作為**運(yùn)行的保證還不夠有力。直流耐壓試驗(yàn)雖然試驗(yàn)電壓比較高，能發(fā)現(xiàn)一些絕緣的弱點(diǎn)，但是由于電力設(shè)備的絕緣大多數(shù)都是組合電介質(zhì)，在直流電壓的作用下，其電壓是按電阻分布的，所以交流電力設(shè)備在交流電場(chǎng)下的弱點(diǎn)使用直流作試驗(yàn)就不一定能夠發(fā)現(xiàn)。交流耐壓試驗(yàn)符合電力設(shè)備在運(yùn)行中所承受的電氣狀況，同時(shí)交流耐壓試驗(yàn)一般比運(yùn)行電壓高，因此通過(guò)試驗(yàn)后，設(shè)備有較大的**裕度，所以這種試驗(yàn)已經(jīng)成為保證**運(yùn)行的一個(gè)重要手段。

        但是由于交流耐壓試驗(yàn)所采用的試驗(yàn)電壓比運(yùn)行電壓高得多，過(guò)高的電壓會(huì)使絕緣介質(zhì)損失增大、發(fā)熱、放電，會(huì)加速絕緣缺陷的發(fā)現(xiàn)，因此，從某種意義上講，交流耐壓試驗(yàn)是一種破壞性試驗(yàn)。

        在進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)前，必須先進(jìn)行各項(xiàng)非破壞性試驗(yàn)，如測(cè)量絕緣電阻、吸收比、介質(zhì)損耗因數(shù)tgδ、直流泄漏電流等，對(duì)各項(xiàng)試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行綜合分析，以決定該設(shè)備是否受潮或含有缺陷。若發(fā)現(xiàn)己存在問(wèn)題，需預(yù)先進(jìn)行處理，待缺陷消除后，方可進(jìn)行交流耐壓試驗(yàn)，以免在交流耐壓試驗(yàn)過(guò)程中，發(fā)生絕緣擊穿，擴(kuò)大絕緣缺陷，延長(zhǎng)檢修時(shí)間，增加檢修工作量。